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您当前所在位置:元器猫> 晶振百科> 频谱分析仪测量晶体振荡器相位噪声
  • 频谱分析仪测量晶体振荡器相位噪声
  • 阅读量:492

  在理想情况下,只要需要传输该信号,晶体振荡器将产生保持稳定,一致且无偏差的信号。但是,没有事物是完美无缺的。
 
  没有晶体振荡器会产生100%完美的信号。即使信号非常强且清晰,波形中仍会出现微小的随机波动。这种现象可以在频域中直观地表示为载波两侧的边带。这些有害的波动称为相位噪声。
 
  注意相位噪声很重要,因为它可以指示受其影响的设备的性能。受明显的相位噪声水平影响的系统将遇到较差的性能。一些网络比其他网络更容易受到相位噪声的影响。
 
  取决于应用,例如医疗技术,军事行动中的GPS等,相位噪声不仅会带来不便,而且会带来危险。如果噪声足够严重,还存在干扰相邻通道的风险,这不仅对使用晶体振荡器的用户产生噪声,对每个人来说都是一个问题。
 
  那么如何才能检测和测量相位噪声以采取措施降低相位噪声呢?
 
  有很多方法可以测量相位噪声,每种方法各有利弊。在许多情况下,默认方法是使用频谱分析仪。所有使用RF技术的人都熟悉示波器,该示波器在时域中观察和显示信号,垂直轴代表电压,水平轴代表随时间变化的信号。频谱分析仪遵循相同的基本原理,但是测量和显示在频域而不是一个信号,通过表示振幅在垂直轴上的信号和的频率上的水平。
 
  使用频谱分析仪时,被测设备(DUT)将直接连接到分析仪的输入。相位噪声是通过相对于载波功率的特定带宽(传统上为1Hz)内的噪声量来测量的。相位噪声的测量值显示为特定偏移处每Hz的dBc数。
 
  频谱分析仪是复杂的设备,被认为是RF工程测试中必不可少的工具。可以在此处找到有关如何使用这些设备的详细信息的良好入门指南。