一、由于对印刷电路板进行热测试，晶体振荡器晶体不工作或频率变化。

　　1、取下晶体，测试其频率和电阻，以确定石英晶体振荡是否振荡，并使用热测试仪来满足规范要求。您也可以将其发送给晶体供应商进行测试。（热试验点应至少相隔10个\/1个试验点）

　　2、如果在工作温度范围内电阻和频率超过规格，请将晶体送厂家进行质量分析和进一步改进。

　　3、当晶体通过热测试时，请检查振荡电路和其他元件的特性，如外部电容器的温度特性、芯片电路的温度特性等。

　　二、石英晶体安装在印刷电路板上时不会振动。

　　1、用示波器或频率计测量晶体两端的信号。如果频率和负载电容符合您的规格，并且晶体通过DLD测试，我们将需要等效电路测试。当信号输出信号小而波形幅度小时，用示波器或频率计测量晶体两端的信号。如果频率远高于目标频率，则使用cl lower。晶体，反之亦然。

　　2、请取出晶体并测试其频率和负载电容，以确定它们是否会振动，使用专业的测试机器并符合您的规格。您也可以将它们发送给供应商进行测试。

　　3、如果出现以下情况，如晶体振动、负载电容不符合您的要求，或当前频率与目标频率之间存在巨大差距，请将晶体送至您的供应商进行质量分析。

　　4、如果频率和负载电容符合您的规格，石英晶体通过DLD测试，我们将需要等效电路测试。

　　如果晶体的参数正常，但在振荡电路中工作不稳定，则必须查明IC的电阻值是否太低而不能驱动电路。

　　5、如果晶体振荡器未通过DLD测试，请将其发送给您的供应商进行质量分析，以便进一步改进。

　　三、当晶体安装在印刷电路板上时，晶体频率随时间的分布过宽或频率受杂散电容的影响较大。

　　该曲线表示电容和频率的变化（频率变化）

　　除外部电路调整外，晶体参数的特性也影响频率牵引范围。参考参数为微调灵敏度（ts）、c0/c1（r）、c1、c0等，各参数与频率可拔性的关系如下：c0'，c1a'，c0/c1（r）？“，ts”，可拉伸性

　　1、根据上述石英晶体的拉伸能力曲线，电容越小，对频率变化的影响越大。如果频率分布太宽，请遵循以下方法：

　　a.增加cd和cg的电容值，使用负载电容（cl）较大的晶体振荡器晶体。

　　b.CD和CG使用更复杂的电容器（电容变化非常小）。

　　c.使用更复杂的晶体（频率变化小）。

　　方法（a）和方法（b）是有效的和具有成本效益的。

　　2、此外，如果由于印刷电路板的杂频率分布不散电容导致能满足规范要求，则可能需要基于杂散电容源的新布局。