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  • 石英晶振在PCB板中出现晶振不起振时,如何处理
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  一、由于对印刷电路板进行热测试,晶体振荡器晶体不工作或频率变化。

  1、取下晶体,测试其频率和电阻,以确定石英晶体振荡是否振荡,并使用热测试仪来满足规范要求。您也可以将其发送给晶体供应商进行测试。(热试验点应至少相隔10个\/1个试验点)

  2、如果在工作温度范围内电阻和频率超过规格,请将晶体送厂家进行质量分析和进一步改进。

  3、当晶体通过热测试时,请检查振荡电路和其他元件的特性,如外部电容器的温度特性、芯片电路的温度特性等。

  二、石英晶体安装在印刷电路板上时不会振动。

  1、用示波器或频率计测量晶体两端的信号。如果频率和负载电容符合您的规格,并且晶体通过DLD测试,我们将需要等效电路测试。当信号输出信号小而波形幅度小时,用示波器或频率计测量晶体两端的信号。如果频率远高于目标频率,则使用cl lower。晶体,反之亦然。

  2、请取出晶体并测试其频率和负载电容,以确定它们是否会振动,使用专业的测试机器并符合您的规格。您也可以将它们发送给供应商进行测试。

  3、如果出现以下情况,如晶体振动、负载电容不符合您的要求,或当前频率与目标频率之间存在巨大差距,请将晶体送至您的供应商进行质量分析。

  4、如果频率和负载电容符合您的规格,石英晶体通过DLD测试,我们将需要等效电路测试。

  如果晶体的参数正常,但在振荡电路中工作不稳定,则必须查明IC的电阻值是否太低而不能驱动电路。

  5、如果晶体振荡器未通过DLD测试,请将其发送给您的供应商进行质量分析,以便进一步改进。

石英晶振在PCB板中出现晶振不起振时,如何处理

  三、当晶体安装在印刷电路板上时,晶体频率随时间的分布过宽或频率受杂散电容的影响较大。

  该曲线表示电容和频率的变化(频率变化)

  除外部电路调整外,晶体参数的特性也影响频率牵引范围。参考参数为微调灵敏度(ts)、c0/c1(r)、c1、c0等,各参数与频率可拔性的关系如下:c0',c1a',c0/c1(r)?“,ts”,可拉伸性

  1、根据上述石英晶体的拉伸能力曲线,电容越小,对频率变化的影响越大。如果频率分布太宽,请遵循以下方法:

  a.增加cd和cg的电容值,使用负载电容(cl)较大的晶体振荡器晶体。

  b.CD和CG使用更复杂的电容器(电容变化非常小)。

  c.使用更复杂的晶体(频率变化小)。

  方法(a)和方法(b)是有效的和具有成本效益的。

  2、此外,如果由于印刷电路板的杂频率分布不散电容导致能满足规范要求,则可能需要基于杂散电容源的新布局。



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